蔡司 X射线显微镜Xradia 620 Versa优势：

●扩大了微米级和纳米级CT解决方案的应用范围

●无损亚微米级分辨率显微观察

●在不影响分辨率的情况下可实现更高通量和更快的扫描

●最高空间分辨率500nm，最小体素40nm

●可在不同工作距离下对不同类型、不同尺寸的样品实现高分辨率成像

●原位成像技术，在受控环境下对样品微观结构的动态演化过程进行无损表征

●可随着未来的创新发展进行升级和扩展

更高的分辨率和通量                                                          

传统断层扫描技术依赖于单一几何放大，而Xradia Versa则将采用光学和几何两级放大，同时使用可以实现更快亚微米级分辨率的高通量X射线源。大工作距离下高分辨率成像技术（RaaD）能够对尺寸更大、密度更高的样品（包括零件和设备）进行无损高分辨率3D成像。                                 

此外，可选配的平板探测器技术（FPX）能够对大体积样品（重达25 kg）进行快速宏观扫描，为样品内部感兴趣区域的扫描提供了定位导航。            

实现新的自由度

运用业界出色的3D X射线成像解决方案完成前沿的科研与工业研究 ：凭借最大化利用吸收和相位衬度，帮助您识别更丰富的材料信息及特征。运用衍射衬度断层扫描技术（LabDCT Pro）揭示3D晶体结构信息。 先进的图像采集技术可实现对大样品或不规则形状样品的高精度扫描。运用机器学习算法，帮助您进行样品的后处理和分割。 

优异的4D/原位解决方案

蔡司Xradia 600 Versa系列能够在可控环境下进行材料3D无损微观结构表征的动态过程。凭借 Xradia Versa在大工作距离下仍可保持高分辨率成像的特性，可将样品放置到样品舱室或高精度原位加载装置中进行高分辨率成像。Versa可与蔡司其它显微镜无缝集成，解决多尺度成像方面的挑战。

                  自动进样装置—提高样品处理效率                                       

                可选配的自动进样装置一次可装载多达70个样品，以维持仪器的连续运行                        

通过选用自动进样装置可最大限度地提高仪器的利用率。自动进样装置适用于蔡司Xradia Versa系列的所有仪器。通过启用多任务运行减少用户干预的频率并提高效率。可装载多达14个样品的运行队列，最多可支持70个样品，通过设置成像队列实现仪器的全天候连续运行。优秀的机械稳定性，能够对相似样品进行高通量重复扫描。                    

宽视场模式—灵活的大样品成像

对大样品进行宽视场模式成像，对 6 英寸立体扬声器等大体积样品成像 

宽视场模式(WFM)可用于在扩展的横向视场上成像。宽横向视场可使大型样品的3D体积扩大3倍，或为标准视场提供更高的体素密度。所有Xradia Versa系统的0.4x物镜均具有宽场模式。Xradia 620 Versa的4倍物镜也具有WFM模式。将WFM 和垂直拼接技术相结合能够以优异的分辨率实现大样品成像。

自动X射线滤光片转换器—简化了复杂样品的成像

自动滤光片转换器(AFC) 包含有12个标准滤光片，同时也为定制滤光片预留有12个空位

X射线源衰减滤光片用于调整照亮样本的X射线能量谱，依据材料的特性来优化成像衬度。每台蔡司Xradia Versa都标配12个X射线滤光片。蔡司Xradia 610 Versa配有一个滤光片安装孔，可以手动更换滤光片。蔡司Xradia 620 Versa系统配备自动X射线滤光片转换器(AFC)，它提高了易用性，实现无缝的滤光片切换，便于对未知样本进行检测。